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QuantumLeap - Système de spectroscopie d'absorption des rayons X : XANES et EXAFS

SIGRAY

La spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS) est une technique d'analyse de l'état chimique utilisée pour la recherche dans un large éventail de disciplines. Cette technique consiste à mesurer la transmission (ou fluorescence) des rayons X en fonction de l'incrémentation de l'énergie des rayons X à des énergies proches du bord d'absorption. L'énergie de bord d'absorption correspond à l'énergie nécessaire pour éjecter un électron d'une couche électronique) d'un élément d'intérêt (par exemple Fe). De petits changements dans la façon dont les rayons X sont absorbés près du seuil d'absorption d'un atome donnent un aperçu de l'état des électrons.

Sigray produit deux systèmes XAS de laboratoire, tous deux dotés de capacités rivalisant avec les lignes de lumière synchrotron. Le premier est le V210, un XAS capable d’analyser les faible Z (numéro atomique) jusqu'au phosphore et avec des capacités de cartographie micro-XAS à des tailles de spot de 100 µm. Le second est le H2000, un système XAS doté à la fois de capacités de transmission et de fluorescence XAS.

Plus d'informations

Three core new approaches enable the QuantumLeap unprecedented performance:

x-ray source featuring an innonvative microstructured x-ray target
proprietary high efficiency x-ray mirror lens
innovative detector geometry.

With QuantumLeap, researchers will now be able to identify and quantify the chemical species of elements of interest. It pairs a cutting-edge multi-energy x-ray source with state-of-the-art capillary optics and switchable analyzer crystals for high energy resolution and fast acquisition times. QuantumLeap provides access to XANES and EXAFS data without the need for a synchrotron:

XANES can be provided at sub-eV energy resolution on the range of minutes to an hour
EXAFS at high throughput in seconds to minutes
Wide energy coverage range for analysis of a broad range of elements
MicroXANES at 100 micron spot size

Caractéristiques techniques

Parameter	Specification
Dual modes	XANES at sub-eV EXAFS at high throughput
Energy coverage	up to 2.4 – 20 keV for coverage of the vast major of periodic table
Resolution	XANES: Down to 0.5 eV at 2.4 keV EXAFS: ~5-15 eV. Note that XANES mode can be used to acquire complete spectra at sub-eV
Crystal analyzers	2 Johansson single crystal analyzers and 1 mosaic crystal. Options for up to 5 crystals
Source	Sigray high brightness microfocus source
Target materials	Dual energy of W and Rh (or Mo) to enable removal of spectral contamination from characteristic lines Others on request (source can accommodate up to 4 targets)
Power \| Voltage \| Current	450 W \| 20-50 kV
Mapping	High resolution (100 µm in one direction) and high throughput
Transmission-mode detector	Spatially resolving photon counting detector
Fluorescence-mode detector	Silicon drift detector