AttoMap - Microscopio analitico µXRF
da SIGRAYIl microscopio analitico AttoMap XRF per micro-fluorescenza a raggi X (micro-XRF) offre risoluzione e sensibilità più alte di qualsiasi altro analogo da laboratorio, fornendo prestazioni synchrotron-like.
Il sistema AttoMap XRF può essere utilizzato, oltre che per il mapping elementale, anche per l’analisi strutturale in trasmissione. La sensibilità senza pari del sistema permette di rilevare elementi in tracce fino a frazioni di ppm in pochi secondi.
- Unico sistema micro-XRF da laboratorio al mondo con risoluzione fino a 3 µm
- Alta velocità di scansione e produzione di mappe elementali in pochi secondi
- Modalità grazing angle brevettata per mapping di campioni a basso Z e/o thin films
Mapping ad alta risoluzione per elementi a basso numero atomico con AttoMapTM
Maggiori informazioni
La chiave delle straordinarie performances del sistema AttoMap XRF è fondata sulle due maggiori innovazioni brevettate e sviluppate da Sigray:
Le sorgenti multi-target FAAST Sigray, circa 50 volte più brillanti delle comuni sorgenti per micro-XRF da laboratorio, totalmente automatizzate e con fino a 5 target customizzabili (fra SiC, Ti, Cu, Pt, Rh, W, Zr, etc…).
Le ottiche bi-paraboidali Sigray ad altissima efficienza che combinano uno spot del fascio molto ridotto ed una distanza di lavoro ottimale.
La chiave delle straordinarie performances del sistema AttoMap XRF è fondata sulle due maggiori innovazioni brevettate e sviluppate da Sigray:
Le sorgenti multi-target FAAST Sigray, circa 50 volte più brillanti delle comuni sorgenti per micro-XRF da laboratorio, totalmente automatizzate e con fino a 5 target customizzabili (fra SiC, Ti, Cu, Pt, Rh, W, Zr, etc…).
Le ottiche bi-paraboidali Sigray ad altissima efficienza che combinano uno spot del fascio molto ridotto ed una distanza di lavoro ottimale.
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