ElcipseXRM – sistema all’avanguardia per microscopia X al sub-micron
da SIGRAYIl sistema EclipseXRM offre la più alta risoluzione spaziale disponibile sul mercato (0,3 µm con dimensioni del voxel <100 nm) combinata con la nuova ed esclusiva modalità Tri-Contrast.
La modalità Tri-Contrast fornisce contemporaneamente informazioni sull'assorbimento, sulla fase quantitativa e sul contrasto in campo oscuro.
- Scansione XRM 3D con risoluzione spaziale di 0.3 μm e voxel size < 100 nm
- Modalità simultanea Tri-Contrast unica al mondo
- Sistema/i di detector accoppiati per massima FOV e risoluzione
Imaging con il Sistema PrismaXRM Sigray: il Caso dei Cheetos
Maggiori informazioni
La chiave delle straordinarie performances del sistema EclipseXRM è fondata sulle due maggiori innovazioni brevettate e sviluppate da Sigray:
La sorgente opzionale multi-target FAAST Sigray, circa 50 volte più brillante delle comuni sorgenti X-ray da laboratorio, totalmente automatizzata e con fino a 5 target customizzati (fra SiC, Ti, Cu, Pt, Rh, W, Zr, etc…) per l’ottimizzazione dello spettro energetico. Tale sorgente può essere accoppiata in parallelo alla sorgente di serie nanofocus Sigray da 160 kV.
Le ottiche bi-paraboidali Sigray ad altissima efficienza che combinano uno spot del fascio molto ridotto ed una distanza di lavoro ottimale.
Il sistema di detectors è composto da un flat panel large-FOV (LFOV) di serie ed un rivelatore opzionale CsI intercambiabili da software e con obiettivi ad alta risoluzione.
La parte di computing è gestita dal software proprietario XRMCompanion, estendibile con la versione GigaRecon, software bundle per ricostruzione iterativa più veloce sul mercato.
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