Microscopio combinato SNOM, confocale e AFM
alpha300 S WITecIl sistema alpha300 S è un microscopio ottico a scansione in campo prossimo (SNOM) che combina i vantaggi della tecnica SNOM con quelli della microscopia confocale e AFM in un singolo strumento, estremamente versatile e di facile utilizzo. Il passaggio da una modalità di misura all'altra avviene tramite semplice rotazione della torretta porta-obiettivi. L'alpha300 S utilizza un'esclusiva tecnologia a cantilever per i sensori SNOM che garantisce un'impareggiabile riproducibilità e facilità di utilizzo, garantendo allo stesso tempo una risoluzione spaziale ben al di là del limite di diffrazione ottica.
- Risoluzione spaziale oltre il limite di diffrazione ottica (< 60 nm in x-y)
- Sensori SNOM a cantilever con tecnologia brevettata
- Facilità di utilizzo sia in aria che in liquido
- Ampia disponibilità di modalità AFM disponibili
- Tecnica di Imaging non distruttivo che richiede una minima preparativa del campione
Maggiori informazioni
Il microscopio SNOM alpha300 S WITec opera utilizzando un esclusivo obiettivo a campo vicino che è montato in una delle posizioni della torretta porta-obiettivi e garantisce l'accesso alle modalità SNOM e AFM. I sensori SNOM , basati su tecnologia a cantilever brevettata WITec, sono ancorati magneticamente su un braccio posto sotto l'obbiettivo, cosa che consente l'osservazione simultanea ad alta risoluzione sia del campione che del cantilever. Il braccio è pilotato tramite un motore inerziale x-y-z ad alta precisione che consente di effettuare le procedure di allineamento del cantilever in maniera rapida e semplice, tutto assistito via software. L'obiettivo, oltre a focalizzare il laser di eccitazione all'interno dell'apertura, è utilizzato per guidare il laser di feedback del cantilever. L'elevata apertura numerica e la stabilità dell'obiettivo impiegato consentono una estrema focalizzazione dei due fasci laser, eliminando completamente effetti di cross-talk e garantendo misure a bassissimo rumore. Grazie alla tecnologia a cantilever, semplicemente sostituendo le sonde SNOM con quelle AFM, il microscopio alpha300 S è in grado di garantire anche tutte le modalità di microscopia AFM.
Specifiche
Modalità di misura:
- Microscopia ottica in campo prossimo (SNOM): modalità in trasmissione, riflessione e raccolta (collection mode)
- Microscopia confocale: modalità in trasmissione, riflessione e fluorescenza (opzionale)
- Combinazione SNOM-AFM: tutte le modalità AFM disponibili (contatto, AC mode, forza laterale, MFM, EFM, etc...)
- Acquisizione di curve forza-distanza (spettrocopia di forza) e luce-distanza
- Illuminazione Fixed-bottom e total internal reflection opzionali
Caratterisctiche del microscopio ottico:
- Microscopio di grado scientifico con torretta a 6 obbiettivi
- Sistema di videocamera a colori ad alta risoluzione
- Illuminazione di tipo Köhler con LED a luce bianca
- Stage per posizionamento manuale del campione tramite viti micrometriche x-y
- Stage piezo per la scansione del campione: range 100 x 100 x 20 μm (altri range disponibili)
- Video camera ad alta sensibilità per la visualizzazione del campione e del sensore AFM/SNOM in trasmissione
- Tavola con controllo attivo delle vibrazioni
Dimensione dei campioni alloggiabili:
- Generalmente fino a 120 mm in x e y, e fino a 25 mm in altezza; sono disponibili adattatori per campioni più grandi
- Software di controllo e analisi WITec Suite FOUR
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