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Punte AFM
da NanoAndMoreOffriamo un ampio range di punte AFM dei maggiori produttori mondiali, grazie alla collaborazione con NanoAndMore.
Tra le diverse tipologie di punte offerte ci sono le punte più comunemente utilizzate, come quelle per modi di scansione a contatto, a non contatto, conduttive, magnetiche, ma anche punte più particolari, come quelle ad altissima frequenza o con coating in diamante.
Le punte AFM e gli accessori di NanoAndMore sono utilizzati per la microscopia a forza atomica nelle scienze dei materiali, fisica, biologia, scienze della vita e nell'industria dei semiconduttori.
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AFM Top-Class per la caratterizzazione delle superfici da risoluzione atomica ad ampi range di scansione
Il DriveAFM è il nuovo strumento di punta di Nanosurf, utilizza la tecnologia più recente per offrire prestazioni stabili e di alto livello. È stato progettato per soddisfare le esigenze della ricerca ...
AFM Top-Class per la Applicazioni Bio di oggi e del futuro
Il DriveAFM è il nuovo strumento di punta di Nanosurf, utilizza la tecnologia più recente per offrire prestazioni stabili e di alto livello. È stato progettato per soddisfare le esigenze della ricerca ...
Microscopio a Forza Atomica versatile per applicazioni in Scienza dei Materiali e Bio
Grazie alla continua attenzione per lo sviluppo da parte di Nanosurf, FlexAFM è oggi il più versatile e flessibile microscopio a forza atomica da ricerca disponibile sul mercato, in grado di eseguire ...
L’AFM da ricerca con il miglior rapporto qualità/prezzo
Il CoreAFM è il risultato della combinazione intelligente dei componenti principali dell'AFM per ottenere la massima versatilità e facilità d'uso. Grazie a questo fondamentale approccio progettuale, ...
Un microscopio AFM da integrare su microscopi e profilometri ottici
Il LensAFM della Nanosurf è un microscopio a forza atomica che può essere integrato al posto di un normale obiettivo su un qualsiasi microscopio o profilometro ottico, permettendo di espandere ...
Microscopio AFM per didattica universitaria e applicazioni di routine
NaioAFM è un microscopio a forza atomica ideale per misure routinarie di campioni di piccola taglia e per l’utilizzo in ambito di didattica avanzata. Questo microscopio AFM “all-in-one” garantisce ...
Microscopio AFM automatizzato per applicazioni industriali e di routine
Le dimensioni estremamente compatte della testa di scansione del NaniteAFM ne fanno un microscopio a forza atomica ideale per applicazioni in cui è richiesta integrazione all’interno di sistemi ...
Sistema di caratterizzazione di superfici alla nanoscala
Alpha300 A è un microscopio a forza atomica (AFM) estremamente versatile integrato con un microscopio ottico di grado scientifico che garantisce un'eccellente accesso ottico al campione e al ...
Sistema combinato Raman-AFM
Il microscopio alpha300 RA è stato il primo sistema commerciale ad integrare le tecniche di Imaging Raman confocale e microscopia a forza atomica (AFM) in un'unica piattaforma, e continua tuttora a ...
Sistema "all-in-one" Raman, AFM e SNOM
Il microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura ...
Piattaforma di microscopia correlativa AFM/SEM facile da utilizzare
Il FusionScope è una piattaforma di microscopia elettronica e correlativa facile da usare, progettata per la prima volta in assoluto per integrare i vantaggi dell'imaging SEM con un'ampia gamma di ...
AFSEM - microscopia correlativa: AFM e SEM
Il sistema AFSEM consente di combinare le possibilità del SEM con quelle della microscopia a forza atomica (AFM). Il dispositivo AFSEM è compatibile con la maggior parte dei sistemi SEM e FIB/SEM ...
AFSEM nano
L’AFSEM nano è un nuovo microscopio a forza atomica (AFM), progettato per essere integrato nei microscopi elettronici a scansione (SEM) e nei sistemi dual beam (FIB/SEM). Il suo design permette ...
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