Das Eclipse XRM – der neue Standard in der Röntgentomographie
Das neue Eclipse XRM-System von Sigray ist das erste nicht linsenbasierte XRM, das eine Ortsauflösung von 300 nm erreichen kann. Darüber hinaus bietet es einen sehr hohen Materialkontrast sowohl für biologische und weiche/leichte Materialien (z. B. Polymere) als auch für Proben aus der Halbleiterindustrie oder der Gesteinsforschung. Es zählt zu den vielseitigsten XRM-Systemen auf dem Markt.
Hervorragende Bildqualität: Sigray EclipseXRM bietet eine echte Auflösung von 300 nm und einen deutlich überlegenen Kontrast für eine Vielzahl von Proben, von großen intakten Leiterplatten (siehe oben) bis hin zu geologischen und biologischen Proben.
Das Eclipse XRM kann mit bis zu zwei Röntgenröhren und verschiedenen Detektorsystemen (Flat-Panel- und/oder Objektiv-basierte Detektoren) ausgestattet werden. Durch diesen internen Aufbau eignet es sich hervorragend für die Integration verschiedenster In-situ-Stages und kann selbst bei einem Arbeitsabstand von 50 mm noch eine Ortsauflösung von <500 nm erreichen.
Phasenkontrastmodus, Offset-Tomographie sowie die Möglichkeit, spiralförmige Scans durchzuführen, runden das Gesamtpaket ab. Für die Auswertung der Messdaten steht eine intuitive Software zur Verfügung, die mit den neuesten Möglichkeiten des maschinellen Lernens ausgestattet ist.
Gerne stehen wir für erste Testmessungen zur Verfügung.
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