Per Definition wird mit spektroskopischer Ellipsometrie über einen breiten Spektralbereich gemessen. Mit unserem RC2 steht ein Bereich von 190 nm bis 1700 nm zur Verfügung.
Ausgehend von speziellen Aufgabenstellungen ist die Erweiterung des Spektralbereichs zu langen Wellenlängen immer ein Wunsch und eine Forderung an die Hersteller.
Um diesem Rechnung zu tragen, bietet Woollam ab 2016 das RC2 mit erweiterter NIR-Option bis 2400 nm an.
Es handelt sich dabei um das bekannte RC2-Ellipsometer mit identischer Messgeschwindigkeit und derselben großartigen CompleteEASE-Software, jedoch mit zusätzlichen Wellenlängen bis ins Infrarot. Außerdem wird der gesamte Spektralbereich mit CCD-Technik simultan aufgenommen.
Abbildung 1 zeigt experimentelle Daten einer 1000 nm dicken thermischen SiO2-Schicht auf Silizium, gemessen von 210 nm bis 2400 nm. Abbildung 2 zeigt den Brechungsindex eines unbeschichteten Quarzglassubstrats. Die Änderung in der Krümmung der Dispersionskurve oberhalb von 1700 nm erfordert zur Beschreibung eine Sellmeier-Funktion (nicht beschreibbar mit Cauchy). Diese geänderte Krümmung wird durch die starke IR-Phononenabsorption in Siliziumdioxid verursacht.
Focused RC2-XF
Produktions-Wafer sind sehr häufig strukturiert, was Messungen mit hoher lateraler Auflösung erforderlich macht. Aber auch bei anderen Proben mit kleinen Strukturen, Inhomogenitäten etc. ist es hilfreich, mit sehr kleinem Messfleck die Probe automatisiert abzurastern. Das Focused RC2-XF bietet die perfekte Kombination aus kleiner Spotgröße (Strahldurchmesser = 25 Mikrometer), schneller Datenerfassung und sehr breitem Spektralbereich. Das patentierte Verfahren zur Datenerfassung des RC2 erlaubt die simultane Messung des gesamten Spektrums mit über 1000 Wellenlängen vom UV bis zum nahen Infrarot in lediglich 0,3 Sekunden.
Bitte kontaktieren Sie uns, falls Sie Aufgabenstellungen haben, die von diesen einzigartigen Eigenschaften des RC2-XF profitieren könnten.
Wir können gerne Testmessungen an Ihren Proben durchführen.