Unsere Abteilung Imaging und Spektroskopie erweitert mit den neu ins Programm aufgenommenen Vakuum-Spektrographen von H+P Spectroscopy den Spektralbereich in den VUV- und XUV-Bereich.
Die XUV-Spektrographen werden individuell auf die vorhandene Lichtquelle zugeschnitten und gebaut. Dadurch können diese auf bestmögliche Effizienz, spektrale Bandbreite und Auflösung optimiert werden (Abb. 1).
Abb. 1: Die optische Geometrie zur Abbildung der XUV-Lichtquelle wird individuell berechnet und ermöglicht dadurch eine bis zu 20-fach verbesserte Intensität ohne Eingangsspalt.
Abb. 2: XUV-Spektrograph für 1-200 nm von H+P Spectroscopy
(Winkeladapter rot)
Die Auswahl des auf den Detektor abgebildeten Ausschnitts erfolgt durch den Wechsel des Winkeladapters (Abb. 2).
In Kombination mit einem vakuumkompatiblen CCD-Detektor (z. B. von Andor Technology) können wir ab sofort eine spezifisch angepasste Systemlösung für die XUV-Spektroskopie von 1 nm bis 200 nm anbieten.
Die tiefe thermoelektrische Kühlung der Andor CCD-Detektoren von bis zu -100 °C ermöglicht sehr lange Integrationszeiten ohne einen signifikanten Beitrag von Dunkelstromrauschen.
Die Systeme sind für die Charakterisierung der Spektren höherer Harmonischer interessant, sowie für materialwissenschaftliche Untersuchungen an Strahlplätzen von Synchrotronen oder Freie-Elektronen-Lasern.
Tab. 1: Übersicht der Spezifikationen des H+P XUV-Spektrometers
Bis auf die motorisierte Gitterpositionierung enthält das robuste und selbsttragende System keine beweglichen Teile. Es stehen drei Gitter zur Auswahl, die jeweils sehr weite Spektralbereiche abdecken (siehe Tabelle 1). Andere Konfigurationen (z. B. mit erhöhter Auflösung) sind auf Wunsch erhältlich.
Abb. 3: Höhere Harmonische Spektren von Neon- und Argongas, einmal gemessen mit einem herkömmlichen Spektrometer (gestrichelt) und mit einem H+P Spektrometer in Kombination mit einem Andor Newton DO940P-BN CCD-Detektor (durchgehende Linien). Zur spektralen Filterung wurden 200 nm Aluminium- bzw. Zirkonfolie verwendet
Abb. 3 zeigt die verbesserte Auflösung eines installierten Systems am SwissFEL (mit freundlicher Genehmigung von Prof. Christoph Hauri, PSI).
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