Zusam­men­setzungs- und Valenzsta­tusanalyse
im Spurenbereich

Unser Lieferant Sigray hat – basierend auf seiner patentierten durchstimmbaren Multi-Energie- und ultrahellen Röntgenquelle sowie auf seinen hocheffi­zienten Röntgenoptiken – mehrere Laborsysteme entwickelt, die ähnlich leistungsstark sind wie vergleichbare Synchrotronaufbauten. 

Hierzu zählen Systeme für die Rönt­gen­­fluo­­reszenzanalyse (µXRF), Rönt­gen­absorptionsspektroskopie (XAS), Rönt­gen-Nahkanten-Absorp­tions-Spek­troskopie (XANES) und Röntgenab­sorp­tions­feinstrukturanalyse (EXAFS). 

Die Methoden XAS, XANES und EXAFS können wichtige Fragen zum chemischen Status der Probe wie z.B. Oxidationsstatus, Bindungs­sym­me­trie, Bindungslängen oder koordina­tivem Aufbau beantworten. Das XAS-System Quantum Leap bietet einen hohen Probendurchsatz und eine sub-eV-Auflösung, vergleichbar mit der an einem Synchrotron möglichen Auf­lösung. Somit kann dieses System hel­fen, Fragestellungen im Bereich der funktionellen Charakterisierung von kritischen Materialien wie Kata­ly­satoren, Batteriematerialien, Kraft­stoff­materialien oder elektroni­schen Bau­kom­ponenten zu klären.

Da es sich um eine zerstörungsfreie Methode handelt, sind sowohl Unter­suchungen im Vakuum als auch bei Raumbedingungen denkbar. Ebenfalls möglich sind In-situ-Ex­peri­mente wie z.B. Un­ter­­su­chungen des Valenzstatus eines Batteriematerials während der La­dungs-Entladungszyklen. Die mit dem Quantum Leap gewonne­nen Ergebnisse könnten dann mit bereits am Synchrotron durchgeführten Messungen verglichen werden. Für wei­tere Informationen zu den ver­schie­­­denen Systemen und deren Mög­lichkeiten kontaktieren Sie mich bitte. 

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Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

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Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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