FTIR-Zubehör: Reflexion
Interne Reflexion tritt auf, wenn Infrarotstrahlung in einen ATR-Kristall eintritt, der aus einem hochbrechenden, IR-durchlässigen Material besteht. Der Kristall ist so konstruiert, dass er eine ...
Das Quest ATR-Zubehör namens „Arrow“ ermöglicht die schnelle (Reihen-)Messung von flüssigen Analyten bzw. bietet Vorteile bei aushärtenden oder trocknenden Proben. Ganze Chargen können außerhalb des ...
Die vorjustierte Diffuse Reflexionseinheit Minidiff Plus ist eine preisgünstige Alternative zur Diffusen Reflexionseinheit Selector. Die entfallende Justierung sowie ein einfacher und schneller ...
Die Druck- und Temperaturprobenkammer ermöglicht optional die Untersuchung diffus reflektierender Festproben in einer kontrollierten Atmosphäre von Raumtemperatur bis 800 °C. Der Druckbereich reicht ...
Mit der Diffusen Reflexionseinheit Selector können Festproben ohne aufwändige Präparation analysiert werden. Die optimierte Off-axis-Konfiguration der Selector-Optik reduziert die ungewollte ...
Durch die hohe Anzahl an Reflexionen ist diese ATR-Einheit ideal für die Analyse von Proben mit intensitätsschwachen Banden. Der von 30° bis 60° einstellbare Einfallswinkel ermöglicht die Variation ...
Das Gateway-ATR-System besteht aus einer optischen Grundeinheit und einem vielfältigen Angebot an Probenhaltern für die Analyse von Flüssigkeiten, Pasten, Gelen, Festproben, Pulvern, Folien etc.. Die ...
Die Quest ist eine Einfach-Reflexions-ATR-Einheit von Specac für die Spektroskopie im mittleren und fernen Infrarot.
Die Golden Gate-Diamant-ATR-Einheit setzt nach wie vor Massstäbe in der ATR-Technik. Der in eine Wolframkarbidplatte hartgelötete massive Diamant vom Typ IIa ermöglicht aufgrund seiner Härte und ...
Diese Einheit eignet sich zur Routineuntersuchung dünner Beschichtungen auf reflektierenden Oberflächen. Durch die horizontale Probenanordnung ist die Handhabung sehr einfach. Die freie Apertur ...
Diese Reflexionseinheit ermöglicht die Untersuchung von unlöslichen Monoschichtfilmen an einer Luft/Wassergrenzfläche sowie die Untersuchung von dünnen Beschichtungen auf einer reflektierenden ...
