Deben
Mit dem PCD Strahlabschalter von Deben kann der Strahl in Elektronenmikroskopen von JEOL und Hitachi entweder komplett oder auch sequenziell geblockt werden. Der Strahlabschalter arbeitet mit bis zu ...
Deben bietet einen Vakuumflansch zur Durchführung von 14 elektrischen Signalen für die meisten Elektronenmikroskope von JEOL, Hitachi, FEI oder Zeiss an. Kundenspezifische Modelle können nach ...
Mit dem Chamberscope von Deben können Sie Ihr REM mit einer intern oder extern angebrachten hochauflösenden Kamera ausrüsten. Die Kamera verwendet eine Infrarotbeleuchtung. Das Chamberscope kann an ...
Seit März 2012 bieten wir die CL-, BSE-, STEM- & EBIC-Detektoren an.
Wir bieten motorisierte Probentische von Deben für REM- und TEM-Systeme von JEOL, Hitachi, Cambridge, ISI und Philips an.
Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ...
Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ...
Der heiz-/kühlbare Probentisch von Deben ermöglicht CT-Experimente auch von gefrorenen Proben. Doppellagige Polystyrolfenster (optional Kohlenstofffenster) gewährleisten eine schnelle Abkühlung der ...
Die Peltier-Probentische von Deben können sowohl in Hochvakuum- als auch in Niedrigvakuum-REMs betrieben werden und kontrollieren äußerst genau die Temperatur der Probe. Es stehen insgesamt drei ...
Die Microtest in-situ Zug- und Kompressionsprobentische bieten in der Standardausführung einen Kraftbereich von 2 N bis 5 kN und bis zu 100 kN als Sonderanfertigungen.
