ALPHA-SE kombinierbar mit QCM-D

QCM-D misst die adsorbierte Masse von Molekülschichten; die spektros­kopische Ellipsometrie misst die opti­sche Schichtdicke.

Die mittels QCM-D bestimmte Masse beinhaltet dabei die Massen der ad­sorbier­ten Moleküle (z.B. Proteine) und der eingebetteten Wassermoleküle. Da die Ellipsometrie eine optische Methode ist, kann das in der Schicht eingebettete Wasser nicht vom umgebenden Wassermedium unterschieden werden. Dies führt dazu, dass die ellipsometrisch ermittelte Schichtdicke geringer ist, als die mit QCM-D bestimmte Masse. Kombiniert man jedoch beide Methoden, lässt sich auch der Anteil des eingebetteten Wassers, und somit die Dichte des adsorbierten Molekülfilms, ermitteln.

Durch die Zusammenarbeit von J.A. Wool­lam Co. und Q-Sense stehen schon seit vielen Jahren spezielle Montage-Adapter zur Integration des Q-Sense E1 in das M-2000 oder RC2-Ellipsometer zur Verfügung. Dadurch sind definierte Messbedingungen (exakte Positionierung, Justage, Ver­wendung der jeweiligen Fen­ster­kor­rek­tureffekte etc.) garantiert. Der Einbau erfolgt schnell und einfach; derselbe Adsorptionsprozess kann simultan mit beiden Methoden gemessen werden.

Da für die meisten Adsorptionsprozesse nicht unbedingt die Messzeit eines M2000 oder RC2 notwendig ist und der sichtbare Spektralbereich ausreicht, weil die meisten Flüssigkeiten im UV ab­sorbieren, bietet Woollam jetzt auch QCM-D-Adapter für das kostengünstige Alpha-SE an. Eine Messzeit von ca. 10 Sekunden und ein simultan aufgenomme­ner Spektralbereich von 380 bis 900 nm sind somit ausreichende Ge­räteparameter. Auch bei der Mess­empfindlichkeit müssen keine Kom­promisse eingegangen werden. Durch die Rotating-Com­­pensator-Me­thode ist eine Ober­flä­chen­emp­findlichkeit im Sub-Ång­ström-Be­reich weiterhin gewährleistet.
 

Ankündigung

7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-7)
Berlin, 6.6.-10.6.2016
http://www.icse-7.de/

Wir von LOT-QuantumDesign und unsere Partner von J.A. Woollam Co. werden auf der ICSE-7 ausstellen und mit vielen Kollegen vor Ort sein. Wir freuen uns auf diese Konferenz und auf viele interessante Gespräche und Diskussionen mit Ihnen.

Mehr zu unseren Ellipsometern

Mehr zu QCM-D