Kostengünstiges präzises Tischgerät alpha 2.0

Optische Konstanten und Dicke, Anisotropie, Indexgradient, Zusammensetzung Das Alpha-SE ist ein äußerst präzises System zur Bestimmung von optischen Konstanten, Dicken, optischer Anisotropie, Indexgradienten, Zusammensetzungen, etc.

Dielektrische Schichten Mit schnellen Messgeschwindigkeiten und einfacher Bedienung per Knopfdruck eignet sich das Alpha-SE optimal zur Charakterisierung dünner Schichten. Einschichtige Dielektrika auf Silikon- oder Glasssubstraten können in Sekunden gemessen werden. Zum schnellen Vergleich können die gemessenen Daten in graphischer und tabellarischer Form dargestellt werden.

Selbst-organisierende Monoschichten (SAM) Mit spektroskopischer Ellipsometrie lassen sich auch bei sehr dünnen Schichten (<10 nm) Informationen zur Phase gewinnen. Selbst-organisierende Monoschichten (SAM) können mit dem Alpha-SE schnell vermessen und verglichen werden.

Absorbierende Schichten Beschichtungen auf Glas