Kompaktes REM FlexSEM 1000

Das kompakte REM FlexSEM 1000 bietet eine vollständige REM-Analyse bei unterschiedlichen Drücken.  Das Mikroskop ist mit einem vorzentrierten Wolfram-Patronenfilament ausgestattet, das sich in wenigen Minuten austauschen und anpassen lässt. FlexSEM1000 kann bei Beschleunigungsspannungen von 0,3 - 20 kV betrieben werden und erlaubt dadurch die Oberflächenanalyse verschiedenster, selbst vakuumempfindlicher Materialien. Über EDX sind die chemischen Informationen fast aller Elemente des Periodensystems abrufbar. Für die Bildaufnahme stehen ein 4-Feld BSE-Detektor (Vakuumbedingungen) und ein Everhart Thornley SE Detektor zur Verfügung. Beide Modi können miteinander kombiniert werden. Im Sekundärelektronen-Modus (SE) erreicht das FlexSEM 1000 eine Auflösung von 4 nm bei 20 kV (15 nm bei 1 kV). Im Rückstreuelektronen-Modus (BSE) werden 5 nm bei 20 kV und bis zu 800.000fache Vergrößerungen (Display) erreicht. Ein dreiachsiger Probentisch bietet zusätzlich zur XY-Bewegung die Höhe (Z), Verkippung und 360° Rotation. Die übersichtliche Benutzeroberfläche ist leicht verständlich. Die Software bietet eine Reihe an automatisierten, verstellbaren Parametern wie Helligkeit, Kontrast, Ausrichtung, Fokus, Berichte, Tischposition uvm. Sie basiert auf Windows 10 und lässt sich daher problemlos in bestehende Software-Umgebungen implementieren.