QuantumLeap - Système de spectroscopie d'absorption des rayons X : XANES et EXAFS
SIGRAYLa spectroscopie d'absorption des rayons X (XAS) est une technique d'analyse de l'état chimique utilisée pour la recherche dans un large éventail de disciplines. Cette technique consiste à mesurer la transmission (ou fluorescence) des rayons X en fonction de l'incrémentation de l'énergie des rayons X à des énergies proches du bord d'absorption. L'énergie de bord d'absorption correspond à l'énergie nécessaire pour éjecter un électron d'une couche électronique) d'un élément d'intérêt (par exemple Fe). De petits changements dans la façon dont les rayons X sont absorbés près du seuil d'absorption d'un atome donnent un aperçu de l'état des électrons.
Sigray produit deux systèmes XAS de laboratoire, tous deux dotés de capacités rivalisant avec les lignes de lumière synchrotron. Le premier est le V210, un XAS capable d’analyser les faible Z (numéro atomique) jusqu'au phosphore et avec des capacités de cartographie micro-XAS à des tailles de spot de 100 µm. Le second est le H2000, un système XAS doté à la fois de capacités de transmission et de fluorescence XAS.
Plus d'informations
Three core new approaches enable the QuantumLeap unprecedented performance:
- x-ray source featuring an innonvative microstructured x-ray target
- proprietary high efficiency x-ray mirror lens
- innovative detector geometry.
With QuantumLeap, researchers will now be able to identify and quantify the chemical species of elements of interest. It pairs a cutting-edge multi-energy x-ray source with state-of-the-art capillary optics and switchable analyzer crystals for high energy resolution and fast acquisition times. QuantumLeap provides access to XANES and EXAFS data without the need for a synchrotron:
- XANES can be provided at sub-eV energy resolution on the range of minutes to an hour
- EXAFS at high throughput in seconds to minutes
- Wide energy coverage range for analysis of a broad range of elements
- MicroXANES at 100 micron spot size
Caractéristiques techniques
Parameter | Specification |
| Dual modes | XANES at sub-eV EXAFS at high throughput |
| Energy coverage | up to 2.4 – 20 keV for coverage of the vast major of periodic table |
| Resolution | XANES: Down to 0.5 eV at 2.4 keV |
| Crystal analyzers | 2 Johansson single crystal analyzers and 1 mosaic crystal. Options for up to 5 crystals |
| Source | Sigray high brightness microfocus source |
| Target materials | Dual energy of W and Rh (or Mo) to enable removal of spectral contamination from characteristic lines Others on request (source can accommodate up to 4 targets) |
| Power | Voltage | Current | 450 W | 20-50 kV |
| Mapping | High resolution (100 µm in one direction) and high throughput |
| Transmission-mode detector | Spatially resolving photon counting detector |
| Fluorescence-mode detector | Silicon drift detector |
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