Sistemi di metrologia ottica SWIR per le comunicazioni ottiche in banda C
Il General Manager di 4D Technology Erik Novak, Ph.D., ha dichiarato: "Le comunicazioni laser nello spazio libero sono un mercato entusiasmante che 4D è orgogliosa di supportare. Abbiamo incrementato il nostro impegno nelle comunicazioni ottiche con un portafoglio completo di soluzioni basate sulla tecnica ad acquisizione dinamica che operano alla lunghezza d'onda di 1550 nm e a lunghezze d'onda discrete in tutta la banda C. I produttori possono ora impiegare gli strumenti 4D Technology per misurare la forma, la rugosità e l'errore del fronte d'onda trasmesso di componenti ottici ed eseguire le operazioni di allineamento e collaudo di sistemi ottici complessi alle effettive lunghezze d'onda a cui operano le comunicazioni ottiche. Basati sulla tecnologia brevettata Dynamic Interferometry®, che permette di eseguire misure con tempi di acquisizione estremamente brevi, i sistemi 4D Technology non richiedono l’impiego di sistemi ausiliari per l’isolamento dalle vibrazioni ambientali o per il controllo della turbolenza e possono essere utilizzati in condizioni ambientali difficili come all’interno di camere di simulazione ambientale per la qualifica di componenti ottici in vuoto criogenico.”
Le comunicazioni laser nello spazio libero possono raggiungere velocità di trasferimento dati migliaia di volte superiori rispetto alle tradizionali comunicazioni in radiofrequenza (RF), il che consente alle organizzazioni di tenere il passo con le applicazioni ad alta densità di dati. Le comunicazioni ottiche, inoltre, offrono una drastica riduzione dei costi per le comunicazioni terrestri e spaziali che risultano anche molto meno suscettibili al rilevamento, all'intercettazione, al disturbo e alle interferenze rispetto ai sistemi in RF.
I sistemi PhaseCam SWIR e AccuFiz SWIR di 4D Technology misurano la forma della superficie, l'errore del fronte d'onda e la rugosità alle lunghezze d'onda della banda C (1535-1565 nm)
La qualità ottica richiesta per le comunicazioni basate su laser, tuttavia, stressa le capacità delle odierne tecniche di produzione e collaudo. I sistemi di metrologia ottica SWIR di 4D Technology forniscono misure precise dell'errore del fronte d'onda trasmesso, della forma e della rugosità superficiale dei componenti ottici alle stesse lunghezze d'onda di quelle operative.
Gli interferometri laser SWIR Serie AccuFiz® e Serie PhaseCam® di 4D Technology offrono entrambi la capacità unica di misurare l'errore e la forma del fronte d'onda alla lunghezza d'onda standard per le comunicazioni ottiche di 1550 nm e, con l’impiego di sorgenti laser esterne, di eseguire le misure a lunghezze d'onda in tutta la banda C con lo stesso sistema. Il profilometro ottico NanoCam HD, inoltre, permette la misura con estrema precisione della rugosità superficiale che può disperdere il fascio laser causando perdita di segnale, riduzione della velocità di trasferimento dati e crosstalk.
Ciascuno dei tre sistemi di metrologia si basa sulla tecnica ad acquisizione dinamica che riduce i requisiti per l'isolamento dalle vibrazioni e abbatte sensibilmente i costi per i test di questi componenti ottici critici.
La 4D Technology ha guidato lo sviluppo della metrologia per l'ottica spaziale sin dal suo inizio oltre 20 anni fa e oggi rappresenta il punto di riferimento per supportare lo sviluppo delle comunicazioni ottiche offrendo sistemi metrologici all’avanguardia che operano alle lunghezze d'onda nel range SWIR.
Oltre alle lunghezze d'onda SWIR, 4D Technology offre interferometri laser che operano in tutte le regioni spettrali IR, dal vicino infrarosso (NIR, 1053-1064 nm) fino al lontano infrarosso (LWIR, 10.6 μm).
4D Technology
4D Technology Corporation, parte del gruppo Onto Innovation Inc., è leader mondiale nella fornitura di soluzioni dinamiche e a non contatto per la Metrologia 3D di superficie.
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