Microscopio AFM automatizzato per applicazioni industriali e di routine
Nanosurf NaniteAFMLe dimensioni estremamente compatte della testa di scansione del NaniteAFM ne fanno un microscopio a forza atomica ideale per applicazioni in cui è richiesta integrazione all’interno di sistemi automatizzati, industriali e non.
Con una risoluzione in Z ben al disotto del nanometro, NaniteAFM è in grado di misurare strutture e proprietà superficiali estremamente piccole. La facilità di integrazione e utilizzo, associata ad una ampia disponibilità di modalità di misura permettono di avere accesso ad un’ampia gamma di informazioni e caratteristiche del campione sotto esame che spesso non emergono in una normale caratterizzazione topografica.
NaniteAFM è lo strumento ideale per il controllo di qualità in ambiti quali l’ingegneria di precisione, industria dei semiconduttori, ottimizzazione dei processi di produzione, etc…
Caratteristiche
- Integrabile
- Compatto
- Robusto
- Videocamera digitale ad alta risoluzione integrata (per visualizzazione simultanea laterale e dallalto)
- Ampia possibilità di automazione
Maggiori informazioni
Sistemi sviluppati ad-hoc su richiesta del cliente
Oltre ai sistemi AFM standard per ricerca e controllo industriale, Nanosurf offre anche la possibilità di sviluppare sistemi AFM “custom” progettati in funzione delle specifiche necessità del cliente. Un team dedicato di specialisti, ingegneri e tecnici è a disposizione per discutere con il cliente le specifiche applicazioni e sviluppare la soluzione ottimale per ogni richiesta.
Applicazioni
Analisi automatizzata di superfici
Controllo Qualità
Ottimizzazione di processi di produzione
Semiconduttori
Downloads
Video
NaniteAFM Large Custom Automated Translation Stage
Contatti
![Product Manager - Dr. Stefano Pergolini Dr. Stefano Pergolini](/fileadmin/_processed_/1/4/csm_PlaceholderMale_edaca9835b.jpg)
Dr.
Stefano
Pergolini
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