Ellissometro Spettroscopico low-cost e ad alta precisione alpha 2.0

da Woollam Co.

L’alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico low-cost, veloce e robusto per la misura di spessori e costanti ottiche di film sottili. Le dimensioni estremamente compatte lo rendono ideale come strumento da banco. L’ellissometro è controllato da PC tramite interfaccia USB.

Caratteristiche
  • Ex-situ
  • Tecnologia a compensatore rotante (RCE)
  • Compatto
  • Low-cost
  • Semi-automatico

Maggiori informazioni

L’alpha 2.0 è lo strumento ideale per analisi di routine di spessori ed indici di rifrazione di film sottili.

Il sistema alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico compatto e veloce (misura 190 lunghezze d’onda simultaneamente in pochi secondi), con interfaccia USB2 e basato su acquisizione tramite CCD.

Questo ellissometro prevede angolo di incidenza variabile manualmente tra i valori 65°, 70°, 75°, e 90° (trasmissione), include come standard l’allineamento automatico in Z del campione e può alloggiare campioni fino a 200 mm di diametro e 16 mm di spessore.

Carica il tuo campione, scegli il modello per l'analisi dati e spingi il pulsante "measure": avrai il risultato che cerchi nel giro di pochi secondi!

Specifiche

  • Range spettrale: 400 nm - 1000 nm
  • Numero di lunghezze d’onda misurate simultaneamente: 190
  • Angoli di incidenza: 65°, 70°, 75° e 90° (straight-through) a regolazione manuale
  • Interfaccia USB
  • Sistema automatico di allineamento del campione in Z
  • Velocità di acquisizione (per singola misura e per l’intero spettro): 5-10 sec (typical)

Opzioni:

  • Cella per misura in liquido
  • Adattatore per QCM-D
  • Focusing probes
  • Stage per misure in trasmissione
  • Stage di movimentazione x-y
  • Videocamera

Applicazioni

Costanti ottiche e spessori, anisotropia, gradienti di costanti ottiche, composizione L'Alpha-SE è un ellissometro estremamente accurato e semplice da usare, ideale per la determinazione di costanti ottiche, spessori, gradienti di indici di rifrazione, composizione, etc.
Film dielettrici Grazie alla velocità di misura e alla semplicità di utilizzo, l'Alpha-SE è lo strumento ideale per misure di routine e di controllo qualità. È  possibile misurare in pochi secondi film dielettrici su substrati di vetro o silicio, ed ottenere report in maniera completamente automatica.
Self-assembled monolayers L'ellissometria spettroscopica, grazie all'informazione sulla variazione di fase (Δ), è estremamente sensibile a film sottili e ultra-sottili (<10 nm). Alpha-SE è lo strumento ideale per la caratterizzazione di monolayer self-assemblati di varia natura.
Film opachi o parzialmente assorbenti Coating su vetro

Downloads

Spectroscopic ellipsometers overview
alpha 2.0 specification
alpha 2.0 brochure
About Woollam Co.

Video

Contatti

Ing. Alessandro Baratti
Ing. Alessandro Baratti

Prodotti correlati

Ellissometro Spettroscopico in-situ iSE
Il Sistema iSE è un nuovo ellissometro spettroscopico in-situ sviluppato per il monitoraggio in tempo reale dei processi su film sottili. Impiegando la comprovata tecnologia Woollam, l’ellissometro ...
Ellissometro Spettroscopico veloce M-2000
L'ellissometro spettroscopico M-2000 combina l'elevata accuratezza della tecnologia a compensatore rotante (RCE) con un'acquisizione spettroscopica multicanale (CCD). Ciò permette un'impareggiabile ...
Ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante RC2
L'RC2 è il primo ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante. Alle migliori caratteristiche dei sistemi di generazione precedente abbina una tecnologia completamente nuova: doppio ...
Ellissometro spettroscopico VASE
Il VASE è in assoluto l'ellissometro da ricerca più accurato e versatile, perfetto per qualsiasi tipo di materiale: semiconduttori, dielettrici, polimeri, metalli, multi-layer, etc...
Ellissometro spettroscopico VUV-VASE
Il VUV-VASE è l'ellissometro spettroscopico di riferimento per la caratterizzazione ottica di materiali utilizzati in particolare in applicazioni di litografia e industria dei semiconduttori. Il suo ...
Ellissometro FTIR IR-VASE
L'IR-VASE è il primo ed unico ellissometro spettroscopico a coprire il range spettrale tra 1.7 e 30 microns (333-5900 numeri d'onda). L'IR-VASE è in grado di determinare sia la parte reale (n) che la ...
Ellissometro Spettroscopico T-Solar per celle solari al Silicio
T-Solar è una versione speciale dell'M-2000 ottimizzata per rispondere alle particolari necessità di misura su superfici texturizzate di Silicio.

Contatti

Quantum Design s.r.l.

Via Francesco Sapori, 27
00143 Roma
Italy

Telefono:+39 06 5004204
Fax:+39 06 5010389
E-mail:italyqd-europe.com
Ing. Alessandro BarattiProduct Manager
+39 06 5004204
Scrivi una e-mail