Microscopio AFM automatizzato per applicazioni industriali e di routine

Le dimensioni estremamente compatte della testa di scansione del NaniteAFM ne fanno un microscopio a forza atomica ideale per applicazioni in cui è richiesta integrazione all’interno di sistemi automatizzati, industriali e non. Con una risoluzione in Z ben al disotto del nanometro, NaniteAFM è in grado di misurare strutture e proprietà superficiali estremamente piccole. La facilità di integrazione e utilizzo, associata ad una ampia disponibilità di modalità di misura permettono di avere accesso ad un’ampia gamma di informazioni e caratteristiche del campione sotto esame che spesso non emergono in una normale caratterizzazione topografica. NaniteAFM è lo strumento ideale per il controllo di qualità in ambiti quali l’ingegneria di precisione, industria dei semiconduttori, ottimizzazione dei processi di produzione, etc…