Sistema di profilometria per Imaging Raman su superfici rugose e/o non piane
WITec TrueSurface MicroscopyIl Sistema di microscopia TrueSurface della WITec, vincitore di diversi premi R&D 2011, permette di eseguire misure di Imaging Raman confocale ad altissima risoluzione anche su superfici estremamente rugose o inclinate, o caratterizzate da variazioni di profondità molto elevate. Il cuore di questa rivoluzionaria tecnologia di imaging è rappresentato da un sensore di profilometria ottica direttamente integrato nella torretta del microscopio che ne garantisce un utilizzo facile e veloce.
- Combinazione unica di Raman Imaging confocale e profilometria ottica
- Velocità di scansione fino a 2000 pixels/s per una rapida acquisizione dei dati
- Risoluzione spaziale laterale: 10 - 25 μm; risoluzione verticale: < 100 nm
- Distanza di lavoro: 10 mm - 16 mm, ampia flessibilità per campioni con grandi variazione di spessori
- Sensore facilmente configurabile per qualsiasi tipo di applicazione
Maggiori informazioni
Il principio di funzionamento di TrueSurface
L’elemento chiave di questo innovativo sistema di imaging consiste in un sensore di topografia che lavora sfruttando il principio di aberrazione cromatica. Attraverso questa tecnica di profilometria a non contatto di tipo puramente ottico, è possibile tracciare la topografia del campione con una scansione preliminare e conseguentemente far seguire la misura di Imaging Raman che è così mantenuta sempre a fuoco sulla superficie del campione.
Per la misura di profilometria, una sorgente a luce bianca di tipo puntuale viene focalizzata sul campione attraverso un gruppo di lenti ipercromatiche (un sistema caratterizzato da forte aberrazione cromatica lineare, ma con ottime qualità di focalizzazione spaziale): in questo modo, ogni colore dello spettro della lampada possiede una diversa e ben definita profondità di fuoco. La luce riflessa dal campione viene raccolta da una lente ed inviata ad uno spettrometro attraverso un sistema confocale formato da un pinhole. Siccome solo un colore risulta essere a fuoco sulla superficie, solamente quella componente raggiungerà lo spettrometro attraverso il pinhole ed è così possibile associare ciascuna lunghezza d’onda ad una specifica profondità (o altezza) della superficie del campione. Eseguendo poi una scansione XY del campione è possibile ricostruirne la mappa di topografia che viene poi utilizzata per mantenere costantemente a fuoco la scansione Raman. Il risultato è dunque un’immagine Raman ad altissima risoluzione spaziale anche nel caso di campioni caratterizzati da elevate variazioni di topografia (superfici inclinate, altamente rugose, etc…).
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