Sistema "all-in-one" Raman, AFM e SNOM
alpha300 RAS WITecIl microscopio alpha300 RAS combina in un unico sistema le tecniche di Raman Imaging, AFM e SNOM fornendo uno strumento incredibilmente flessibile per la caratterizzazione di campioni di varia natura sulla micro- e nano-scala. Attrevarso la combinazione di queste tre tecniche, è possibile eseguire una vasta gamma di sofisticati esperimenti che includono misure simultanee Raman-AFM, TERS, Nearfield-Raman (Raman-SNOM) e molto altro ancora.
- Tutte le caratteristiche dei sistemi alpha300 R (Raman), alpha300 A (AFM) e alpha300 S (SNOM) in un unico strumento
- Combinazione unica di imaging chimico (Raman), caratterizzazione superficiale su scala nano (AFM) e imaging ottico oltre il limite di diffrazione (SNOM)
- Ideale per misure simultanee Raman-AFM, TERS e Nearfield-Raman
- Passaggio da una modalità all'altra tramite semplice rotazione della torretta porta-obiettivi
- Passaggio da una modalità all'altra senza necessità di spostare il campione
Maggiori informazioni
L'alpha300 RAS offre la possibilità di estensione al modello alpha300 RAS+ con le seguenti caratteristiche aggiuntive:
- Stage motorizzato per il posizionamento x, y e z con corsa da 25 mm (optional 50 mm)
- Misure automatizzate di Raman Imaging su aree estese (25 x 25 mm; optional 50 x 50 mm)
- Misure automatizzate multi-area e multi-punto
- Autofocus
Specifiche
Modalità operative Raman:
- Raman spectral imaging: acquisizione di spettri Raman completi ad pixel dell'immagine
- Scansioni planari (x-y) e depth scan (direzione z)
- Image stack: Imaging Raman confocale 3D
- Time series
- Acquisizioni di singoli spettri Raman puntuali
- Ultrafast Raman Imaging (1300 spetri al secondo), opzione disponibile con EMCCD
- Microscopia confocale in fluorescenza
- Microscopia in campo chiaro
- Microscopia in campo scuro (Dark Field), a contrasto di fase e DIC (opzionali)
Modalità operative AFM:
- Contact Mode
- AC Mode (Tapping Mode)
- Digital Pulsed Force Mode (DPFM)
- Lift Mode
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Electric Force Microscopy (EFM)
- Phase Imaging
- Spettroscopia di forza (curve force-distanza)
- Nano-Manipolazione/Litografia
- Lateral Force Microscopy (LFM)
- Chemical Force Microscopy (CFM)
Modalità di misura SNOM:
- Modalità in trasmissione, riflessione e raccolta (collection mode)
- Microscopia confocale: modalità in trasmissione, riflessione e fluorescenza (opzionale)
- Acquisizione di curve forza-distanza (spettrocopia di forza) e luce-distanza
- Illuminazione Fixed-bottom e total internal reflection opzionali
Caratteristiche del microscopio ottico:
- Microscopio di grado scientifico con torretta a 6 obiettivi
- Sistema di videocamera a colori ad alta risoluzione
- Illuminazione di tipo Köhler con LED a luce bianca
- Stage per posizionamento manuale del campione tramite viti micrometriche x-y
- Stage piezo per la scansione del campione: range 100 x 100 x 20 μm (altri range disponibili)
- Video camera ad alta sensibilità per la visualizzazione del campione e del sensore AFM/SNOM in trasmissione
- Tavola con controllo attivo delle vibrazioni
Dimensione dei campioni alloggiabili:
- Generalmente fino a 120 mm in x e y, e fino a 25 mm in altezza; sono disponibili adattatori per campioni più grandi
- Software di controllo e analisi WITec Suite FOUR
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