AttoMap – Analytisches µXRF-Mikroskop der nächsten Generation

Unser neuer Lieferant Sigray, Inc. entwickelt völlig neue Ansätze für Röntgensysteme. Damit werden Mess­ergebnisse erzielt, die bisher nur in Synchrotron-Experimenten be­werk­­stelligt werden konnten. 

Das µXRF-Rönt­genmikroskop Atto­Map bietet höchste Auflösung bei größt­möglicher Sensitivität. Es kann sowohl für Transmissions- als auch für Fluoreszenz­messungen zur chemi­schen Analyse verwendet werden. Erste Ergebnisse bei der Spuren­ele­ment-Analyse zeigen eine Sensitivi­tät von <1-10 ppm bei einer Messdauer von 1 Sekunde.

Die Vorteile des AttoMap-Systems im Vergleich zu herkömmlichen µXRF-­Laborsystemen basieren auf drei von Sigray selbst entwickelten In­novationen:

  1. Die patentierte Röntgenquelle FAAST mit 50x höherer Helligkeit im Ver­gleich zu herkömmlichen Mikro­fokus-Röntgenquellen
  2. Hocheffiziente Röntgenoptiken, die einen kleinen, achromatischen Fokus mit einem großen Arbeitsabstand kombinieren
  3. Eine Detektorgeometrie, die eine 10x höhere Fluoreszenzausbeute im Vergleich zu herkömmlichen Aufbau­ten gewährleistet

Mit diesen Neuerungen werden völlig neue µXRF-Experimente möglich:

  • Substantiell höhere Auflösung im Bereich 3-5 µm MTF für die Detektion von Nanopartikeln im Bereich von 50-100 nm 
  • Dramatisch schnellere Aufnahmegeschwindigkeiten ≈ 1 Minute (im Vergleich zu einem halben Tag bei normalen µXRF-Systemen) für einen bis zu 500 x höheren Probendurchsatz
  • Sub-ppm und Sub-fg-Sensitivität in Sekunden für Spurenelement-Analysen 
  • Akkurate Quantifizierungsmöglichkeiten und eine optionale Zwei-Energie Röntgenquelle für maximale Flexibilität
  • Analyse verdeckter Mikrostrukturen 

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Dr. Andreas Bergner
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