Spektrale Dämpfung von Lichtwellenleitern
FSL300 von BenthamDas FSL300 System ermöglicht die genaue Bewertung des Spektralverlusts von Fasern, die sowohl bei Qualitätskontrollprozessen als auch in Materialforschung und Entwicklung von größter Bedeutung ist. Unter Verwendung der international anerkannten Referenzprüfmethode "Cut-Back-Technik", bietet das FSL300 eine hohe Messgenauigkeit über alle Fasertypen hinweg. Aufgrund der sequentiellen Arbeitsweise dieser Technik weist das FSL300 eine hervorragende optische und mechanische Stabilität und Wiederholbarkeit am Cut-Back-Ende auf und gewährleistet somit ein Höchstmaß an Messsicherheit.
- Genaue Bewertung der spektralen Verluste der Fasern
- Basierend auf international anerkannter Cut-Back-Technik
- Wellenlängenbereich über das gesamte UV-Vis-Spektrum; Erweiterbar für IR bis über 5000 nm
- Hochpräzise Bewertung einer großen Bandbreite von Fasertypen, einschließlich Kieselsäure, dotiertem Glas, Kunststoff und photonischen Bandlückenfasern
- Lichtquelle und Startoptik fest mit dem Monochromator verschraubt -> keine mechanische Instabilität über die Zeit.
- dB/km Verlustberechnung in Abhängigkeit der Wellenlänge
Weitere Informationen
Das FSL300 ist modular aufgebaut und bietet durch die unabhängige Auswahl der Lichtquelle, des Monochromators, des Lock-in-Verstärkers, der Detektoren und der Optik maximale Flexibilität in der Konfiguration.
Vorteile
- Überlegene optische und mechanische Stabilität
- Modularer Aufbau und hohe Flexibilität der Konfiguration
- Einfacher und reproduzierbarer Messprozess
- Vollautomatische Messung und Berechnung der spektralen Dämpfung
Angezeigte Parameter
- Spektrale Dämpfung der Faser, dB/km
Spezifikationen
Fasermontage
| Start Optik | Bare Fiber Chuck für 80-200 µm Fasern |
| Detektor | V-Nut-Bartfaserhalter für 125 μm Fasern |
FSL300_Si
| Spektralbereich | 350-1100 nm |
| Typisches Spektraldatenintervall | 5 nm |
| Typische spektrale Bandbreite (FWHM) | 5 nm |
| Lichtquelle | IL1 Halogen mit Chopper |
| Monochromator | 300 mm Brennweite mit 1200 g/mm Gittern |
| Detektor | 2,4x 2,4 mm Silizium: 350-1100 nm |
| Wellenlängengenauigkeit | ± 0,2 nm |
FSL300_InGaAs
| Spektralbereich | 800-1700 nm |
| Typisches Spektraldatenintervall | 5 nm |
| Typische spektrale Bandbreite (FWHM) | 5 nm |
| Lichtquelle | IL1 Halogen mit Chopper |
| Monochromator | 300 mm Brennweite mit 830 g/mm Gittern |
| Detektor | 1 mm Ø InGaAs: 800-1700 nm ungekühlt |
| Wellenlängengenauigkeit | ± 0,3 nm |
FSL300_InGaAs_EX
| Spektralbereich | 800-2500 nm |
| Typisches Spektraldatenintervall | 5 nm |
| Typische spektrale Bandbreite (FWHM) | 5 nm |
| Lichtquelle | IL1 Halogen mit Chopper |
| Monochromator | 300 mm Brennweite mit 830/600 g/mm Gittern |
| Detektor | 1mm Durchmesser thermoelektrisch gekühlt, extended InGaAs: 800-2500nm |
| Wellenlängengenauigkeit | ± 0,3 nm (830 g/mm) |
FSL300_PbSe
| Spektralbereich | 1.500-5.000 nm |
| Typisches Spektraldatenintervall | 10 nm |
| Typische spektrale Bandbreite (FWHM) | 10 nm |
| Lichtquelle | Doppel Halogen-IR Element mit Chopper |
| Monochromator | 300mm Brennweite mit 600/300 g/mm Gittern |
| Detektor | 3 mm Durchmesser thermoelektrisch gekühlt PbSe: 1000-5000 nm |
| Wellenlängengenauigkeit | ± 0,4 nm (600 g/mm) |
FSL300_Dual_Si_InGaAs
| Spektralbereich | 350-1700 nm |
| Typisches Spektraldatenintervall | 5 nm |
| Typische spektrale Bandbreite (FWHM) | 5 nm |
| Lichtquelle | IL1 Halogen mit Chopper |
| Monochromator | 300 mm Brennweite mit 1200/830 g/mm Gittern n |
| Detektoren | 2.4x2.4 mm Silizium: 350-1100 nm |
| 1 mm Ø InGaAs: 800-1700 nm ungekühlt |
Anwendungen
- IEC 60793-1-40:2001
- Optical fibres - Part 1-40: Measurement methods and test procedures - Attenuation
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