In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT

Wir bieten eine Reihe von In-situ Probentischen für Elektronenmikroskopie- und Computertomografie (µCT)- Systeme. Die Tische kommen sowohl für Druck- und Zugexperimente als auch für ... mehr 
Wir bieten eine Reihe von In-situ Probentischen für Elektronenmikroskopie- und Computertomografie (µCT)- Systeme. Die Tische kommen sowohl für Druck- und Zugexperimente als auch für Temperaturexperimente zum Einsatz, und können mit nahezu allen marktüblichen Computertomografie- und Elektronenmikroskopie-Systemen verwendet werden.

In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT - In-situ Zug-Probentisch CT500 500N für µ-Computertomographie-Anwendungen
In-situ Zug-Probentisch CT500 500N für µ-Computertomographie-Anwendungen

Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ...


In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT - In-situ Druck-/Zug-Probentisch CT5000 5KN für µ-Computertomographie-Anwendungen
In-situ Druck-/Zug-Probentisch CT5000 5KN für µ-Computertomographie-Anwendungen

Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ...


In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT - Heiz-/kühlbarer Probentisch -20 °C bis +150 °C für µ-Computertomograhie-Anwendungen
Heiz-/kühlbarer Probentisch -20 °C bis +150 °C für µ-Computertomograhie-Anwendungen

Der heiz-/kühlbare Probentisch von Deben ermöglicht CT-Experimente auch von gefrorenen Proben. Doppellagige Polystyrolfenster (optional Kohlenstofffenster) gewährleisten eine schnelle Abkühlung der ...


In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT - Heiz- & kühlbare Peltier-Probentische für REM
Heiz- & kühlbare Peltier-Probentische für REM

Die Peltier-Probentische von Deben können sowohl in Hochvakuum- als auch in Niedrigvakuum-REMs betrieben werden und kontrollieren äußerst genau die Temperatur der Probe. Es stehen insgesamt drei ...


In-situ Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT - In-Situ Zug- und Kompressionsprobentische
In-Situ Zug- und Kompressionsprobentische

Die Microtest in-situ Zug- und Kompressionsprobentische bieten in der Standardausführung einen Kraftbereich von 2 N bis 5 kN und bis zu 100 kN als Sonderanfertigungen.

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