Wir schaffen Platz in unserem Labor – das AFM im SEM

Unsere Entwicklungsabteilung für das AFSEM von GETec, die Quantum Design Microscopy, schafft Platz im neuen Labor in Darmstadt und bietet ihr AFSEM 1.0-System zum Verkauf an. Das AFSEM 1.0 vereint die beiden Welten der Rasterkraft- und Elektronenmikroskopie und ermöglicht schnell und einfach einen ersten Einblick in die korrelative Mikroskopie.
Das AFSEM kann in die meisten kommerziellen Elektronenmikroskope (u.a. SEM, FIB, Dual Beam) implementiert werden. Diese Kombination ermöglicht Informationen über die mechanischen, elektrischen oder auch magnetischen Eigenschaften der zu untersuchenden Probe zu erhalten. Selbstverständlich stehen dabei auch die verschiedenen Detektoren der Systeme weiter zur Verfügung, wie z.B. EDX-, SE- oder BSE-Detektor.

Das AFSEM bietet durch die Wahl der jeweiligen Cantilever Zugriff auf die unterschiedlichsten Messmodi, wie:

  • Contact Mode
  • AC Mode
  • Conductive AFM
  • Magnetic AFM
  • Force Volume Mode
  • Force Distance
  • Thermal Probe

Mehr über das AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

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Dr. Andreas Bergner
Dr. Andreas Bergner

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64293 Darmstadt
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Dr. Andreas BergnerProdukt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
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