AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen
AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen
Mit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM) können zwei der leistungsfähigsten Oberflächenanalysemethoden, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden. Mit nur einem ...
Self-sensing cantilevers
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