LOT-QuantumDesign
Unser Partner Oxford Instruments Andor

Echelle-Spektrograph

Mechelle 5000 von Oxford Instruments Andor

Patentgeschütztes optisches Echelle-Design mit einem spektralen Durchlassband von 200 nm bis 975 nm und einer spektralen Auflösung von λ/Δλ = 5000. Der Mechelle-Spektrograph von Andor stellt den gesamten Bereich in einem einzigen zweidimensionalen Bild dar und erfasst automatisch das Spektrum. Das System arbeitet vollständig ohne bewegliche Teile.

Eigenschaften
  • Kompakte und robuste Bauweise
  • Patentgeschütztes optisches Design
  • Automatische Temperaturkompensation
  • N2-Schutzgas
  • Vorjustierter Detektor/Spektrograph

Weitere Informationen

Der neue Echelle-Spektrograph Mechelle ME5000 von Andor ist für die gleichzeitige Aufzeichnung eines breiten Wellenlängenbereichs (200-975 nm) in einem einzigen Erfassungsvorgang konzipiert. Das Gerät hat keine beweglichen Teile und steht in einem vorjustierten Detektor/Spektrometer-Format zur Verfügung. Der Mechelle-Spektrograph von Andor basiert auf der Hauptlinie des Echelle-Gitters und bietet dank seines patentgeschützten optischen Aufbaus extrem niedrige Nebensprecheffekte und hohe Auflösung verglichen mit anderen Spektrographen.

Spezifikationen

Anwendungen

Absorptions-, Transmissions-, Reflexionsmessungen
Einzelmolekül-Spektroskopie
Fluoreszenzuntersuchungen
Hyperspektrale Bildgebung
Mikro-Raman und Mikro-Fluoreszenz
Laserinduzierte Plasma/Breakdown Spektroskopie (LIBS)

Downloads

Pen-Ray Line sources for wavelength calibration
Software for cameras and spectropgraphs
Spectroscopy solutions brochure

Referenzkunden

Title Author(s) Institute Year Spectrograph/
Detector
Laser induced breakdown spectroscopy
Automated 2D elemental mapping by laser-induced breakdown spectroscopy G. Cairns1,
J. Kaiser2
1Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2Institute of Physical Engineering, Brno University of Technology, Czech Republic
2014

Mechelle ME5000
iStar DH734i-18F-031

Application of an Echelle spectrometer for 2D mapping of aluminum alloy surfaces using MicroLIBS M.T. Taschuk1, M. Tripathi2, A. Hanvey3, R. Al-Wazzan3, Y.Y. Tsui1 and R. Fedosejevs1 1 Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alberta, Edmonton, Canada,
2 Andor Technology, S. Windsor, USA ,
3 Andor Technology, Belfast, United Kingdom
2007

Mechelle ME5000
iStar DH734-18U-131

Remark:
1iStar 734 replaced by iStar 334

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Christian Iser
Christian Iser
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Markus Krause
Markus Krause
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Dr. Thorsten Pieper
Dr. Thorsten Pieper
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