Echelle-Spektrograph
Mechelle 5000 von Oxford Instruments AndorPatentgeschütztes optisches Echelle-Design mit einem spektralen Durchlassband von 200 nm bis 975 nm und einer spektralen Auflösung von λ/Δλ = 5000. Der Mechelle-Spektrograph von Andor stellt den gesamten Bereich in einem einzigen zweidimensionalen Bild dar und erfasst automatisch das Spektrum. Das System arbeitet vollständig ohne bewegliche Teile.
- Kompakte und robuste Bauweise
- Patentgeschütztes optisches Design
- Automatische Temperaturkompensation
- N2-Schutzgas
- Vorjustierter Detektor/Spektrograph
Weitere Informationen
Der neue Echelle-Spektrograph Mechelle ME5000 von Andor ist für die gleichzeitige Aufzeichnung eines breiten Wellenlängenbereichs (200-975 nm) in einem einzigen Erfassungsvorgang konzipiert. Das Gerät hat keine beweglichen Teile und steht in einem vorjustierten Detektor/Spektrometer-Format zur Verfügung. Der Mechelle-Spektrograph von Andor basiert auf der Hauptlinie des Echelle-Gitters und bietet dank seines patentgeschützten optischen Aufbaus extrem niedrige Nebensprecheffekte und hohe Auflösung verglichen mit anderen Spektrographen.
Spezifikationen
Anwendungen
Downloads
Referenzkunden
| Title | Author(s) | Institute | Year | Spectrograph/ Detector |
|---|---|---|---|---|
| Laser induced breakdown spectroscopy | ||||
| Automated 2D elemental mapping by laser-induced breakdown spectroscopy | G. Cairns1, J. Kaiser2 | 1Andor Technology, Belfast, United Kingdom 2Institute of Physical Engineering, Brno University of Technology, Czech Republic | 2014 | Mechelle ME5000 |
| Application of an Echelle spectrometer for 2D mapping of aluminum alloy surfaces using MicroLIBS | M.T. Taschuk1, M. Tripathi2, A. Hanvey3, R. Al-Wazzan3, Y.Y. Tsui1 and R. Fedosejevs1 | 1 Department of Electrical and Computer Engineering, University of Alberta, Edmonton, Canada, 2 Andor Technology, S. Windsor, USA , 3 Andor Technology, Belfast, United Kingdom | 2007 | Mechelle ME5000 |
Remark:
1iStar 734 replaced by iStar 334
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