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EclipseXRM – ein submikron CT System der Extraklasse

von SIGRAY

Das EclipseXRM bietet eine Kombination aus höchster Auflösung (Voxelgröße <100 nm) und dem einzigartigen Tri-Contrast Modus. Der Tri-Contrast Modus nimmt gleichzeitig Absorption, quantitative Phaseninformationen und Darkfield Kontrastinformationen der Probe auf und gewährleistet neue Erkenntnisse über den internen Aufbau Ihrer Proben.

Eigenschaften

3D Röntgenmikroskop mit einer Voxelgröße < 100 nm und einer Auflösung bis zu 0.3 µm
Einzigartige Kontrastmöglichkeiten (Tri-Contrast Modus)
Verschiedene Detektoren für ein Maximum an Auflösung und Field-of-view

Weitere Informationen

Tri-Contrast Modus

Das EclipseXRM bietet die einzigartige Möglichkeit drei verschiedene, neuartige Röntgenkontrastinformationen zu detektieren. Absorption, Quantitative Phase™ und Subresolution Darkfield™. Jeder Modus liefert eine andere Einsicht in die Probe und kombiniert ergibt sich ein vollständiges Bild über den internen Aufbau der Probe. Dies eröffnet die Möglichkeit der Untersuchung neuer Anwendungen wie z.B. der Lithium Migration in Batterien oder bisher verborgenen Rissen in der Halbleiterindustrie. Ebenso bietet der Tri-Contrast Modus neue Einblicke bei biologischen Fragestellungen.

Quantitative Phase™ Kontrast

Das EclipseXRM bietet die Möglichkeit sowohl den bereits bekannten Propagation Phase Kontrast Modus zu verwenden, als auch den von Sigray entwickelten, neuartigen Quantitative Phase™ Kontrast. Während der Propagation Phase Kontrast nur eine so genannte Edge-Enhancing Methode ist, liefert der Quantitative Phase™ Kontrast tatsächlich direkte Informationen über den Brechungsindex des Materials der Probe und kann so die Ordnungszahl des Materials von der Dichte trennen. Damit erhalten wir eine Komplementierung zum Absorptionskontrast, der eine Faltung der Information von Ordnungszahl und Dichte bietet. Gerade für Materialen aus dem Bereich der Biologie oder der Polymerforschung, die nur einen geringen Absorptionskontrast aufweisen eröffnen sich mit dem Quantitative Phase™ Kontrast komplett neue Möglichkeiten.

Nanofokus Röntgenquelle und optionale zweite Röntgenquelle

Das EclipseXRM bietet die Möglichkeit von zwei leistungsstarken Röntgenquellen in einem System. Dies bietet ein Maximum an Flexibilität und Leistungsfähigkeit. Beide Röntgenquellen sind wartungsfrei und benötigen nicht den Nachkauf von Verbrauchsmaterialien. Die Nanofokus Röntgenröhre eröffnet eine Auflösung im Submikron Bereich (0.5µm) während die Tri-Contrast Röntgenröhre Zugriff auf 3x verschiedene Kontrastmethoden bietet. Alternativ kann ebenfalls die von Sigray entwickelte FAAST Röntgenröhre mit bis zu 5x verschiedenen Targetmaterialien ausgestattet werden kann (z.B. Cr, Cu, Rh, W, Mo, Au, Ti, Ag). Damit bieten sich dem Anwender völlig neue Möglichkeiten was die Wahl des Röntgenenergiebereiches angeht in dem gemessen werden kann. Die Wahl der Targetmaterials für die Messung geschieht einfach über die Steuerungssoftware. Es müssen keinerlei Hardwareänderungen vorgenommen werden. So kann ein Optimum an Kontrast und Durchdringung der Probe erreicht werden.

Spezifikationen

Parameter	Specification
Dual Modes	Absorption Mode \| Submicron resolution at large working distances Tri-Contrast Mode \| Absorption, Quantitative Phase^TM, and Subresolution Darkfield^TM acquired simultaneously
Spatial Resolution^[a]	Submicron (0.5 μm) in Absorption Mode <3 μm Microns in Tri-Contrast Mode
Source(s)	Sealed Tube Transmission \| Additional Patented Sigray Microstructured Source (optional)
Target	Tungsten on diamond substrate \| Patented target with microstructured metals embedded in diamond in secondary Sigray source
Voltage	30 - 160 kV
X-ray detectors	Multiple detector system. Enables rapid changing of FOV and resolution modes
Scintillator-coupled objectives	0.4X, 4X, 20X, and 40X objectives^[b], 2k x 2k CCD detector
Large FOV detector	Choice of flat panel detector^[c] for increased FOV or photon-counting detector^[d] for high throughput for high x-ray energies and energy thresholding. Custom sizes upon request.
Tri-Contrast Design Energy	20, 30, 40^[e], and 50 keV^[e]
Stage	100 x 100 x 100 mm XYZ High precision air bearing rotary stage with up to 25 kg load
Software	Sigray3D Intuitive Software. Optional ORS Dragonfly and/or Avizo Data Analysis Advanced algorithms for improved reconstruction time and quality

[a] Spatial resolution for absorption mode measured with 2D resolution target, normal field mode, optional 40X objective
[b] 4X and 20X objectives are standard. 0.4X and 40X objectives are optional
[c] Flat panel standard option is 2304 x 2904, with 50 um pixels. Larger formats are available upon request.
[d] Photon-counting detector comes in three formats: 1k x 0.5k at 40 Hz with CdTe, 1k x 1k 100 Hz CdTe, and 1k x 2k 20 Hz CdTe. CdTe enables high efficiency at high energies.
[e] 40 and 50 keV tri-contrast requires optional patented Sigray microstructured x-ray source