Kostengünstiges präzises Tischgerät alpha 2.0
Von Woollam Co.Das spektroskopische Ellipsometer alpha 2.0 ist ein schnelles, preiswertes System zur Bestimmung von Schichtdicken und optischen Konstanten. Das Gesamtsystem ist beeindruckend klein und kompakt ohne zusätzliche Steuereinheiten. Es ist somit das ideale Tischgerät. Die Rechneransteuerung erfolgt über USB.
- Ex-situ
- Dual Rotation Ellipsometer (Kompensator + Analysator)
- Klein und kompakt
- Preisgünstig
- Halbautomatisch
Weitere Informationen
Für Routinemessungen von dünnen Schichtdicken und Brechungsindizes. Die Handhabung ist denkbar einfach: Sie führen die Probe ein, wählen das zu Ihrer Schicht passende Modell und drücken auf "Measure". Innerhalb von Sekunden haben Sie das Ergebnis.
Spezifikationen
Spetralbereich: 400 nm bis 1000 nm (190 Wellenlängen)
Einfallswinkel: 65°, 70° und 75° und Transmission (manuell)
Computerverbindung: USB
Automatisierte z-Justage
Messzeit: 5 - 10 Sekunden
Anwendungen
Optische Konstanten und Dicke, Anisotropie, Indexgradient, Zusammensetzung
Das Alpha-SE ist ein äußerst präzises System zur Bestimmung von optischen Konstanten, Dicken, optischer Anisotropie, Indexgradienten, Zusammensetzungen, etc.
Dielektrische Schichten
Mit schnellen Messgeschwindigkeiten und einfacher Bedienung per Knopfdruck eignet sich das Alpha-SE optimal zur Charakterisierung dünner Schichten. Einschichtige Dielektrika auf Silikon- oder Glasssubstraten können in Sekunden gemessen werden. Zum schnellen Vergleich können die gemessenen Daten in graphischer und tabellarischer Form dargestellt werden.
Selbst-organisierende Monoschichten (SAM)
Mit spektroskopischer Ellipsometrie lassen sich auch bei sehr dünnen Schichten (<10 nm) Informationen zur Phase gewinnen. Selbst-organisierende Monoschichten (SAM) können mit dem Alpha-SE schnell vermessen und verglichen werden.
Absorbierende Schichten
Beschichtungen auf Glas
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Thomas
Wagner
Produkt Manager - Ellipsometrie / Oberflächenwissenschaften
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