Kostengünstiges präzises Tischgerät alpha 2.0
Von Woollam Co.Das spektroskopische Ellipsometer alpha 2.0 ist ein schnelles, preiswertes System zur Bestimmung von Schichtdicken und optischen Konstanten. Das Gesamtsystem ist beeindruckend klein und kompakt ohne zusätzliche Steuereinheiten. Es ist somit das ideale Tischgerät. Die Rechneransteuerung erfolgt über USB.
- Ex-situ
- Dual Rotation Ellipsometer (Kompensator + Analysator)
- Klein und kompakt
- Preisgünstig
- Halbautomatisch
Weitere Informationen
Für Routinemessungen von dünnen Schichtdicken und Brechungsindizes. Die Handhabung ist denkbar einfach: Sie führen die Probe ein, wählen das zu Ihrer Schicht passende Modell und drücken auf "Measure". Innerhalb von Sekunden haben Sie das Ergebnis.
Spezifikationen
Spetralbereich: 400 nm bis 1000 nm (190 Wellenlängen)
Einfallswinkel: 65°, 70° und 75° und Transmission (manuell)
Computerverbindung: USB
Automatisierte z-Justage
Messzeit: 5 - 10 Sekunden
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