AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen - AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen
AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen

Mit dem AFSEM-Rasterkraftmikroskop (AFM)  können zwei der leistungsfähigsten Ober­flächen­ana­lyse­me­tho­den, AFM und REM, schnell und einfach miteinander kombiniert werden. Mit nur einem ...


AFSEM-Rasterkraftmikroskop für korrelative AFM- und REM-Messungen - Self-Sensing Cantilevers
Self-Sensing Cantilevers

SCL-Sensor.Tech develops and manufactures silicon piezo-resistive self-sensing cantilevers. This type of all-electrical cantilever allows completely new applications in the fields of AFM, nanoprobing, ...

Kontakt

Quantum Design GmbH

Im Tiefen See 58
64293 Darmstadt
Germany

Telefon:+49 6151 8806-0
Fax:+49 6151 8806920
E-Mail:germany@qd-europe.com
Cookie Hinweis Cookies helfen uns bei der Bereitstellung unserer Dienste. Wenn Sie unsere Dienste nutzen, stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Datenschutzerklärung