Alpha-SE Ellipsomètre Spectroscopique de table
Woollam Co.L’Alpha-SE est un instrument presse-bouton extrêmement simple à utiliser et parfait pour les mesures de routine d'épaisseur de couches minces et d'indice de réfraction. Il s’agit d’un système compact pouvant être placé sur une table et qui est contrôlé par ordinateur.
- Ex-situ
- Ellipsometer à compensateur tournant
- Compacte
- Abordable
- Semi-automatique
Plus d'informations
L'ellipsomètre Woollam Alpha-SE™ utilise la méthode brevetée dite RCE (Rotating Compensator) pour obtenir des mesures fiables et précises. Cette technique RCE lui assure des mesures ellipsométriques complètes (sans singulairité) pour tout type d'échantillon. Les analyses réalisées permettent d'obtenir notamment les paramètres suivants : épaisseur de couche, indice complexe du matériau, rugosité d'interface, coefficients de la matrice de Mueller, dépolarisation des couches étudiées.
Caractéristiques techniques
Spectral range: 380 nm to 900 nm (180 wavelengths)
Angle of incidence: 65°, 70° and 75°, as well as straight-through
Computer connection: USB (1.1 or higher)
Automated sample height adjustment
Data acquisition time:
- 3 sec. (Fast mode)
- 10 sec. (Standard mode)
- 30 sec. (Long mode)
Gamme spectrale unique: 380 à 900 nm (180 wavelengths)
Station à 4 angles fixes: 65°, 70°, 75° et 90°
Positionnement en Z automatisé
Connexion simple via USB
Temps de mesure
3 sec. à 30 sec.
Options
- cellule liquide
- adaptation mécanique pour QCM-D
- système de focalisation
- porte-échantillon en transmission
- platine de translation
- caméra
Applications
Téléchargements
Vidéos
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