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Notre partenaire

Alpha-SE Ellipsomètre Spectroscopique de table

Woollam Co.

L’Alpha-SE est un instrument presse-bouton extrêmement simple à utiliser et parfait pour les mesures de routine d'épaisseur de couches minces et d'indice de réfraction. Il s’agit d’un système compact pouvant être placé sur une table et qui est contrôlé par ordinateur.

Caractéristiques

Ex-situ
Ellipsometer à compensateur tournant
Compacte
Abordable
Semi-automatique

Plus d'informations

L'ellipsomètre Woollam Alpha-SE™ utilise la méthode brevetée dite RCE (Rotating Compensator) pour obtenir des mesures fiables et précises. Cette technique RCE lui assure des mesures ellipsométriques complètes (sans singulairité) pour tout type d'échantillon. Les analyses réalisées permettent d'obtenir notamment les paramètres suivants : épaisseur de couche, indice complexe du matériau, rugosité d'interface, coefficients de la matrice de Mueller, dépolarisation des couches étudiées.

Caractéristiques techniques

Spectral range: 380 nm to 900 nm (180 wavelengths)

Angle of incidence: 65°, 70° and 75°, as well as straight-through

Computer connection: USB (1.1 or higher)

Automated sample height adjustment

Data acquisition time:

3 sec. (Fast mode)
10 sec. (Standard mode)
30 sec. (Long mode)

Gamme spectrale unique: 380 à 900 nm (180 wavelengths)

Station à 4 angles fixes: 65°, 70°, 75° et 90°

Positionnement en Z automatisé

Connexion simple via USB

Temps de mesure

3 sec. à 30 sec.

Options

cellule liquide
adaptation mécanique pour QCM-D
système de focalisation
porte-échantillon en transmission
platine de translation
caméra

Applications

Epaisseur de couche, indice complexe du matériau, gradient d'indice, anisotropie, rugosité d'interface, coefficients de la matrice de Mueller, dépolarisation des couches étudiées Le Alpha-SE est compact, robuste et simple d'usage. Il permet d'obtenir de façon précise et répétable de nombreux paramètres des couches étudiées, notamment, l'épaisseur, l'indice complexe du matériau, le gradient d'indice, l'anisotropie, la rugosité d'interface, les coefficients de la matrice de Mueller, la dépolarisation.

Films diélectriques La simplicité et la rapidité de mesure de l'Alpha-SE le rendent idéal pour les mesures de routines des films minces.

Monocouches auto-assemblées (S.A.M.) En ellipsométrie spectroscopique, l'information de phase des mesures est fortement sensible pour les couches très fines (< 10nm). Ainsi les SAM peuvent aisément analysées et comparées avec le Alpha-SE.

Films absorbants Coating on glass

Téléchargements

Spectroscopic ellipsometers overview

alpha 2.0 specification

alpha 2.0 brochure

About Woollam Co.

Vidéos

Liens connexes

ttp://www.ake-pdv.org/TeamViewer online support for spectroscopic ellipsometers

CompleteEASE video training series

Contact

Gauthier Caby

Ingénieur Technico-Commercial

	01 69 19 49 49
	Écrire un email

Gauthier Caby

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Tél. :	01 69 19 49 49
Email :	franceqd-europe.com