Ellissometri Spettroscopici
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L'ellissometria, sia essa a singola lunghezza d'onda o spettroscopica, è una tecnica utilizzata per determinare lo spessore e le costanti ottiche di film sottili e substrati. Ellissometri a singola lunghezza d'onda ed ellissometri spettroscopici misurano la variazione dello stato di polarizzazione della luce in seguito a riflessione (o ...
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L'ellissometria, sia essa a singola lunghezza d'onda o spettroscopica, è una tecnica utilizzata per determinare lo spessore e le costanti ottiche di film sottili e substrati. Ellissometri a singola lunghezza d'onda ed ellissometri spettroscopici misurano la variazione dello stato di polarizzazione della luce in seguito a riflessione (o trasmissione, nel caso di campioni anisotropi).
Quantum Design offre una vasta gamma di ellissometri spettroscopici ottimizzati in funzione delle specifiche necessità ed applicazioni. Il VASE, un ellissometro flessibile basato su un monocromatore a scansione, ideale per qualsiasi tipo di applicazione R&D, copre il più ampio range spettrale disponibile sul mercato: da 140nm fino a 3200nm e, in combinazione con l'IR-VASE, fino a 30 µm. In alternativa sono disponibili i sistemi della famiglia M-2000 e RC2 che, grazie alla tecnologia a compensatore rotante in combinazione con l'acquisizione CCD, garantisco un'estrema velocità di misura rappresentando la soluzione ideale per applicazioni sia ex-situ che in-situ.
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What is Ellipsometry? This brief introduction to ellipsometry is targeted to the novice and provides a fundamental description of ellipsometry measurements and typical data analysis procedures. The ...
L’alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico low-cost, veloce e robusto per la misura di spessori e costanti ottiche di film sottili. Le dimensioni estremamente compatte lo rendono ideale come ...
Il Sistema iSE è un nuovo ellissometro spettroscopico in-situ sviluppato per il monitoraggio in tempo reale dei processi su film sottili. Impiegando la comprovata tecnologia Woollam, l’ellissometro ...
Il sistema theta-SE è un ellissometro spettroscopico automatizzato per la caratterizzazione dell'uniformità di film sottili. Il theta-SE è un sistema di ellissometria avanzata caratterizzato da un ...
L'ellissometro spettroscopico M-2000 combina l'elevata accuratezza della tecnologia a compensatore rotante (RCE) con un'acquisizione spettroscopica multicanale (CCD). Ciò permette un'impareggiabile ...
L'RC2 è il primo ellissometro spettroscopico a doppio compensatore rotante. Alle migliori caratteristiche dei sistemi di generazione precedente abbina una tecnologia completamente nuova: doppio ...
Il VASE è in assoluto l'ellissometro da ricerca più accurato e versatile, perfetto per qualsiasi tipo di materiale: semiconduttori, dielettrici, polimeri, metalli, multi-layer, etc...
L'IR-VASE è il primo ed unico ellissometro spettroscopico a coprire il range spettrale tra 1.7 e 30 microns (333-5900 numeri d'onda). L'IR-VASE è in grado di determinare sia la parte reale (n) che la ...
Il VUV-VASE è l'ellissometro spettroscopico di riferimento per la caratterizzazione ottica di materiali utilizzati in particolare in applicazioni di litografia e industria dei semiconduttori. Il suo ...
T-Solar è una versione speciale dell'M-2000 ottimizzata per rispondere alle particolari necessità di misura su superfici texturizzate di Silicio.
