Ellissometro Spettroscopico low-cost e ad alta precisione alpha 2.0

da Woollam Co.

L’alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico low-cost, veloce e robusto per la misura di spessori e costanti ottiche di film sottili. Le dimensioni estremamente compatte lo rendono ideale come strumento da banco. L’ellissometro è controllato da PC tramite interfaccia USB.

Caratteristiche
  • Ex-situ
  • Tecnologia a compensatore rotante (RCE)
  • Compatto
  • Low-cost
  • Semi-automatico

Maggiori informazioni

L’alpha 2.0 è lo strumento ideale per analisi di routine di spessori ed indici di rifrazione di film sottili.

Il sistema alpha 2.0 è un ellissometro spettroscopico compatto e veloce (misura 190 lunghezze d’onda simultaneamente in pochi secondi), con interfaccia USB2 e basato su acquisizione tramite CCD.

Questo ellissometro prevede angolo di incidenza variabile manualmente tra i valori 65°, 70°, 75°, e 90° (trasmissione), include come standard l’allineamento automatico in Z del campione e può alloggiare campioni fino a 200 mm di diametro e 16 mm di spessore.

Carica il tuo campione, scegli il modello per l'analisi dati e spingi il pulsante "measure": avrai il risultato che cerchi nel giro di pochi secondi!

Specifiche

  • Range spettrale: 400 nm - 1000 nm
  • Numero di lunghezze d’onda misurate simultaneamente: 190
  • Angoli di incidenza: 65°, 70°, 75° e 90° (straight-through) a regolazione manuale
  • Interfaccia USB
  • Sistema automatico di allineamento del campione in Z
  • Velocità di acquisizione (per singola misura e per l’intero spettro): 5-10 sec (typical)

Opzioni:

  • Cella per misura in liquido
  • Adattatore per QCM-D
  • Focusing probes
  • Stage per misure in trasmissione
  • Stage di movimentazione x-y
  • Videocamera

Applicazioni

Costanti ottiche e spessori, anisotropia, gradienti di costanti ottiche, composizione L'Alpha-SE è un ellissometro estremamente accurato e semplice da usare, ideale per la determinazione di costanti ottiche, spessori, gradienti di indici di rifrazione, composizione, etc.
Film dielettrici Grazie alla velocità di misura e alla semplicità di utilizzo, l'Alpha-SE è lo strumento ideale per misure di routine e di controllo qualità. È  possibile misurare in pochi secondi film dielettrici su substrati di vetro o silicio, ed ottenere report in maniera completamente automatica.
Self-assembled monolayers L'ellissometria spettroscopica, grazie all'informazione sulla variazione di fase (Δ), è estremamente sensibile a film sottili e ultra-sottili (<10 nm). Alpha-SE è lo strumento ideale per la caratterizzazione di monolayer self-assemblati di varia natura.
Film opachi o parzialmente assorbenti Coating su vetro

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Spectroscopic ellipsometers overview
alpha 2.0 brochure
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      Ing. Alessandro Baratti
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